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探針臺測試系統

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探針臺測試系統

類型:

全自動探針臺

主要用途:

晶圓測試、各類器件

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A系列全自動探針臺

產品概要

支持Sic/Gan晶圓測試,大功率晶圓測試; 更換Chuck設計,可針對不同晶圓測試; 可與儀器儀表系統進行集成; 可升級高低溫測試環境測試

基本信息

產品型號

A8、A12

工作環境

開放式

電力需求

220V,50/60Hz

操控方式

全自動

產品尺寸

A8(1124 x 1111 x 925) ;A12(1600 x 1660 x 1450)

設備重量

1.2T, 2T

 

應用方向

晶圓測試、各類器件、Wafer等進行I-V、C-V、光信號、RF、1/f噪聲等特性分析、射頻測試等

 

A8全自動探針臺

●小尺寸輕重量,更小的占地面積 ●微米級全閉環運動控制 ●伯努利手臂支持薄片 ●高精度和測試速度,大大提高測試效率 ●24*7全天候在片探測 ●高壓大電流測試應用

A12全自動探針臺

●高測試精度與測試速度,大大提升產能效益 ●全自動化系統運行,快速安全可靠測試 ●支持單點測試和連續測試 ●綜合控制系統,快速接入儀器測試 ●CHUCK高效測試系統,運行速度超200mm/s ●豐富的軟件自動化測試 ,機械精度精確校準 ●可升級自動wafer厚度測量和ID讀卡 ●內部防震系統裝置,運行更穩定


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銷售熱線:010-84845929